T760是专为LED光电特性量测有高产能需求，特别设计的双站自动化标准测试系统。功能设计符合CIE 127-1997的测试规范要求，适用于各式全彩LED的量测。T760系统采用两台工业计算机架构，可配合自动机台分站量测光电特性。其中，整合了高阶的微处理器、数字／模拟转换器、光谱卡与高精度的光学组件，展现出傲视业界之高正确性、高稳定性、高速量测的性能表现。 为了满足使用者多样的需求，T760提供了完整的光、电性测试项目供使用者弹性选择，包括IV, Ivstd, x, y, u', v', λD, λDstd, λp, λc, Pe, CCT, CRI, FWHM, Pi, Pv, Vf, Vr, Ir, If, △Vf, DVf, THY, THYscan等；软件操作上则是以Windows XP为平台，搭配全中文化的使用接口与图像式的编辑方法，以兼顾LED量测之完整性与便利性。 此外，T760独特的多用途弹性设计，配合其高速、稳定、准确的量测性能表现，相当适合与高速型自动化机台联机使用。使用者可选配不同的测试模块，以应用于不同形式的LED量测（例如：LED裸晶、SMD、Lamp、Piranha、LED Display...等）。随着高亮度、全彩、白光LED的快速发展，LED量测仪器的重要性也与日俱增；长裕欣业最新研发之T760量测系统，其强大之功能与简易之操作接口，必能完全满足您在LED量测上的需求，并且协助您迅速取得竞争优势。

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