． 整合高阶光谱卡、视效滤镜组、10cm积分球(尺寸可选择)，可量测各式高亮度之LED
 
 
． 量测速度快，单晶标准测试可在70 ms内完成 (含极性判断, Vf, Ir, Lv(lumen), λD量测；测试顺序可任意调整)

． 提供高达1A的电流供应模块，专为High Brightness LED设计。

 
． 量测重复性高，量测效果稳定，可有效确保LED出货质量
 
． 测试与分级项目完整，包含Lv(lumen), x, y, λD, λp, Pe, CCT, CRI, FWHM, Vf, Vr, Ir, If, ΔVf, THY等
 
． 适用范围广，搭配不同模块，可应用于多种材料形式与特殊测试条件。

 
．追溯Instrument System光学校正体系

． 全中文化操作介面，使用者容易上手。
 
 
． 图形化的脚位选择画面，可量测各式单、双、三晶LED。

． 可测试CCT与CRI，且提供白光打靶功能，适合照明用白光LED之测试应用。

． 针对单一测试项目，可弹性设定两组以上之测试条件

． 提供两种闸流体侦测模式，完整测试不同形式之闸流体现象

． 弹性的数据存取，可直接进行相关统计分析，亦可储存完整之原始读值供进阶分析