． 整合高阶光谱卡与视效滤镜组，可准确量测全彩 LED之光学特性。
 
 
． 量测速度快，单晶标准测试可在60ms内完成（含 PV、Vf、Ir、IV、λD量测；测试顺序可任意调整）

． 提供准确的量测值与宽广的量测范围。

 
． 量测重复性高，量测效果稳定，可有效确保LED出货 品质。
 
． 测试与分级项目完整，包含IV, Ivstd, x, y, u', v', λD, λDstd, λp, Pe, CCT, CRI, FWHM, Pi, PV, Vf,Vr, Ir, If, △Vf, DVf, THY, THYSCAN等。
 
． 适用范围广，搭配不同模块，可应用于多种材料形式 与特殊测试条件。

 
．符合CIE量测规范要求，追溯Instrument System光学校正体系。

． 全中文化操作介面，使用者容易上手。
 
 
． 采用快速分级与白光分级区域设定，分级过程简易便 捷。

． 可量测CCT与CRI，且提供白光实时打靶功能，提 供照明用白光LED最佳的测试规格。