S720 应用长裕新发展出的「视觉检测」技术，可针对待测晶粒进行位置坐标自动辨识与定位补偿动作，如此便可对扩模后、呈现不规则排列的 LED 晶粒进行针点测试。该 系统整合了一套落地式 LED 晶圆针测机 ( 含 2 组探针座 ) 、视讯显微镜、 LED 分光式光电测试仪，整合机架以及工业用计算机；藉由完整的系统设计与整合， S720 不论是在相关技术支持或是售后服务上，都将更迅速与完整。

•「视觉检测」技术应用

应用「机器视觉 ;Machine Vision 」技术，提供系统自动辨识晶粒位置与定位补偿的功能，即使是面对扩模后、呈现不规则排列的 LED 晶粒，亦可完整点测。

• 完整的系统整合

S720 整合了长裕研发自制的点测探针模块与 LED 光电性测试仪器，提供使用者整套系统的的技术咨询与售后服务。

• 量测速度快

自动辨识定位补偿后，进行量测亮度、波长、顺向电压、逆向电流， PPH 可达 18K 。

• 实时分级晶圆图

本系统提供图像式的实时分级晶圆图，以便利制程监控，亦可下载分类档案到晶粒挑选机直接进行分类选别。

• 视讯显微镜

使用者可透过视讯显微镜，从屏幕观察实时的探针状态 ，避免使用传统目接式显微镜时所产生的疲惫感。

• 高稳定性

整合型机架提供 LED 裸晶在测试的程中最稳固的支撑，可避免因震动而影响量测结果。

• 感应式探针设

配备感应式探针设计，除提供全自动寻边功能外，亦使针尖共面调整更加便利。

• 适用各种不同的晶粒形式

搭配「视觉辨识技术」与「单、双探针可调式设计」，无论是切割／裂片前后，与扩膜后之各式晶粒均可量测 。