• 整合高階光譜卡、視效濾鏡組、10cm積分球(尺寸可選擇)，可量測各式高亮度之LED。
 
• 量測速度快，單晶標準測試可在70 ms內完成 (含極性判斷, Vf, Ir, Lv(lumen), λD量測；測試順序可任意調整)
 
•提供高達1A的電流供應模組，專為High Brightness LED設計。
 
• 量測重覆性高，量測效果穩定，可有效確保LED出貨品質

 
• 測試與分級項目完整，包含Lv(lumen), x, y, λD, λp, Pe, CCT, CRI, FWHM, Vf, Vr, Ir, If, ΔVf, THY等

 
• 適用範圍廣，搭配不同模組，可應用於多種材料形式與特殊測試條件
 
• 追溯Instrument System光學校正體系。

 
• 全中文化操作介面，使用者容易上手。
 
• 圖形化的腳位選擇畫面，可量測各式單、雙、三晶LED
 
•可測試CCT與CRI，且提供白光打靶功能，適合照明用白光LED之測試應用。

•針對單一測試項目，可彈性設定兩組以上之測試條件

•提供兩種閘流體偵測模式，完整測試不同形式之閘流體現象

•彈性的資料存取，可直接進行相關統計分析，亦可儲存完整之原始讀值供進階分析