• 整合高階光譜卡與視效濾鏡組，可準確量測全彩 　 LED之光學特性。
 
• 量測速度快，單晶標準測試可在60ms內完成（含
PV、Vf、Ir、IV、λD量測；測試順序可任意調整）
 
•提供準確的量測值與寬廣的量測範圍。
 
• 量測重覆性高，量測效果穩定，可有效確保LED出貨
品質。

 
• 測試與分級項目完整，包含IV, Ivstd, x, y, u', v', λD, λDstd, λp, Pe, CCT, CRI, FWHM, Pi, PV, 　 　 Vf,Vr, Ir, If, △Vf, DVf, THY, THYSCAN等。

 
• 適用範圍廣，搭配不同模組，可應用於多種材料形式 與特殊測試條件。
 
• 符合CIE量測規範要求，追溯Instrument System光學校正體系。

 
• 全中文化操作介面，使用者容易上手。
 
• 採用快速分級與白光分級區域設定，分級過程簡易便
捷。
 
•可量測CCT與CRI，且提供白光即時打靶功能，提
供照明用白光LED最佳的測試規格。