• 整合電氣系統、高階光譜卡與特殊光纖，可做全彩LED之量測。
 
 
• 量測速度快，單晶標準測試可在45ms內完成。

• 量測重覆性高，量測效果穩定，可有效確保LED出貨
品質。

 
• 測試與分級項目，包含Pi, Pv, Pw, Vf, Ir, λD, λp, x, y, Iv, Vz, λD Mix, λp Mix, x Mix, y Mix, Iv Mix等。
 
• 適用範圍廣，可搭配不同包裝機，與量測不同形式之LED。
 
• 符合CIE量測規範要求，追溯Instrument System光學校正體系。

 
• 提供即時量測讀值結果，並有即時光譜圖或即白光打靶圖可供選擇。

• 全中文化操作介面，使用者容易上手。
 
 
•提供簡易的報表編輯功能與統計分析結果，以便於品質之監控。