S720應用長裕新發展出的「視覺檢測」技術，可針對待測晶粒進行位置座標自動辨識與定位補償動作，如此便可對擴模後、呈現不規則排列的 LED 晶粒進行針點測試。該 系統整合了一套落地式LED晶圓針測機 (含2 組探針座 ) 、視訊顯微鏡、 LED分光式光電測試儀，整合機架以及工業用電腦；藉由完整的系統設計與整合， S720 不論是在相關技術支援或是售後服務上，都將更迅速與完整。

•  「視覺檢測」技術應用
應用「機器視覺;Machine Vision」技術，提供系統自動辨識晶粒位置與定位補償的功能，即使是面對擴模後、呈現不規則排列的 LED 晶粒，亦可完整點測。

•  完整的系統整合
S720 整合了長裕研發自製的點測探針模組與 LED 光電性測試儀器，提供使用者整套系統的的技術諮詢與售後服務。

•  量測速度快
自動辨識定位補償後，進行量測亮度、波長、順向電壓、逆向電流，PPH可達18K 。

•  即時分級晶圓圖
本系統提供圖像式的即時分級晶圓圖，以便利製程監控，亦可下載分類檔案到晶粒挑選機直接進行分類選別。

•  視訊顯微鏡
使用者可透過視訊顯微鏡，從螢幕觀察即時的探針狀態 ，避免使用傳統目接式顯微鏡時所產生的疲憊感。

•  高穩定性
整合型機架提供LED裸晶在測試的程中最穩固的支撐，可避免因震動而影響量測結果。

•  感應式探針設
配備感應式探針設計，除提供全自動尋邊功能外，亦使針尖共面調整更加便利。