• 視訊顯微鏡
 　　使用者可透過螢幕輕鬆且清楚的校準晶粒的位置，避免因探針及晶粒位置不同而產生的測試誤差。
 
 • 十字線產生器
 　　在螢幕上產生十字線，定義裸晶正確的待測位置。避免因探針歪折或光學讀取頭移位而產生量測誤差。
 
 • 操作方便、定位精準
 　　採用八軸解析度１micron meter之手動微調器，操作方便定位精準。
 
 • 1206 SMD校正座
 　　提供一組1206 SMD校正座，方便以SMD作為裸晶測試之Golden sample。
 
 • 單、雙探針
 　　提供雙探針測試座，可同時適用於各種不同電極分佈之單、雙電極晶粒。
 
 • 自動測試
 　　可由儀器控制，自動下探探針並進行測試，重複性高，裸晶位置不易移動且操作簡便。

H702 LED Die Probe Station 是一台LED半切晶圓的自動全測機台。它除可提供精確快速的探測動作，並可以與測試儀器連線，線上同時完成LED電性與亮度、顏色的量測。
 
 　  可同時提供探針的座標訊號。如搭配測試儀器的mapping軟體即可完成晶圓的特性分佈圖。工程研發人員便可利用此圖進行LED Die的分析，並將相同電性與亮可選配使用各種倍率的顯微鏡，或採用視訊的電子顯微鏡。度、顏色的Led Die分類而提高其附加價值。
 
 　  具有防塵的保護罩，可避免機械結構因塵粒的累積而產生不必要的維修與故障。
 
 　   具有多段的防呆保護可避免漏測、誤判、邊緣誤判的狀態發生。
 可支援單探針與雙探針的探測。
 操作簡便，校準容易。可提高稼動率。
 提供多種形狀的晶圓檢測模式。
 可選取抽測功能，提高量測效率。